Безналичный расчет работаем с юридическими лицами и с НДС.
Доставка по всей России бесплатная доставка от 15 000 руб.
Официальный дистрибьютор измерительного оборудования.

M4 TORNADO предназначен для неразрушающего элементного анализа и элементного картирования в материаловедении, экспертизе, геологии, археологии, биологии и т.д. Спектрометр использует метод микрорентгенофлуоресцентного анализа (микро-РФА). Метод позволяет производить неразрушающий элементный анализ неоднородных проб, проб неправильной формы или небольших включений в пробе с высокой чувствительностью. Фокусировка рентгеновского излучения производится с помощью поликапиллярной оптики, что увеличивает его интенсивность на 3 порядка по сравнению с коллиматорной. Спектрометр может поставляться на выбор с рентгеновской трубкой в комплектации с поликапилляром или коллиматором. Опционально возможна установка двух рентгеновских трубок для эффективного возбуждения необходимых элементов и двух SDD детекторов для увеличения скорости сканирования поверхности и снижения эффекта тени.

Основные преимущества M4 TORNADO :

  1. 1. Размер пучка 25 мкм, шаг столика 5 мкм, скорость перемещения столика от 100 мм/с
  2. 2. Скорость измерения распределения элементов при быстром картировании поверхности образца от 1 мс на пиксель (например, площадь 1 см2 за 3 минуты)
  3. 3. Анализ образцов любой формы без пробоподготовки. Объект не требуется помещать в прободержатель
  4. 4. Картирование в режиме реального времени по площади, линии, в выбранных точках и т.д.
  5. 5. Возможность построения карт распределения элементов по срезам образца в виде 3D модели.
  6. 6. Автофокусировка в каждой точке измерения, возможность анализа неровных поверхностей
  7. 7. Большая вакуумная камера размером 600x350x260 мм.
  8. 8. Фазовый анализ неоднородностей для оценки распределения и пропорции различных фаз.
  9. 9. Анализ толщины покрытий и многослойных систем на печатных платах, металлах или пластмассах.
Тип приборастационарный
Тип образцовматериалы металлургического производства, цемент, геология, драгоценные металлы, реставрация, искусствоведение, археология, полупроводники, микроэлектроника, тонкие пленки
Метод анализамикрорентгеновская флуоресценция
Применениеобласти размером от 20 мкм, печатные платы, измерение толщины покрытия